硅同位素标准物质
【特征形态】固态
【介质基体】硅
【定值日期】1994年6月
【主要用途】校准仪器和装置；评价方法；工作标准；质量保证/质量控制；其他
【保存条件】干燥器中。
【注意事项】使用前应置于105℃烘箱中烘2-3小时。最小取样量为10mg。
【分析方法】质谱法
| 标准值 | 不确定度 | 单位 | |
| 含量或浓度 | -0.02 | 0.10 | δ30SiNBS-28×10-3 |
【特征形态】固态
【介质基体】硅
【定值日期】1994年6月
【主要用途】校准仪器和装置；评价方法；工作标准；质量保证/质量控制；其他
【保存条件】干燥器中。
【注意事项】使用前应置于105℃烘箱中烘2-3小时。最小取样量为10mg。
【分析方法】质谱法
| 标准值 | 不确定度 | 单位 | |
| 含量或浓度 | -0.02 | 0.10 | δ30SiNBS-28×10-3 |